elco panorama

Système pour test de Burn-In, permettant de vieillir prématurément des circuits intégrés en vue d'analyse de fiabilité et de qualification.

Un programme applicatif, tournant sous Windows, permet à l'utilisateur de configurer et de visualiser les résultats d'exploitation sous forme conviviale.

Compétences mises en œuvre

  • Microcontrôleur 16-bit, firmware contenant un protocole de communication propriétaire
  • Algorithme codé en VHDL et configurable pour la génération des formes d'ondes appliquées aux circuits intégrés
  • Liaison série RS-485 avec protocole de communication propriétaire
  • Conception d'une application IHM sous Windows

Points critiques

  • Coexistence de tests "très faible niveaux" avec des tests de type "courant fort"
  • Utilisation continue sur plusieurs mois sans interruption
  • Température ambiante normale d'utilisation de 150 °C
  • Forte intégration